N5800系列超高采樣率超級電容容量內阻測試儀

■  電壓范圍：0-5V；

■  量程范圍：0-50A/100A/200A/300A/400A/500A/600A/800A/1000A；
■  恒流充電、恒流放電、恒壓充電、循環(huán)壽命、充電容量、放電容量、 DCIR（直流等效內阻）等參數(shù)測試；

■  充轉放無縫切換，無過充過放；

■  采樣&通訊傳輸間隔高達1ms，完全真實還原測試過程數(shù)據(jù)；

■  功能豐富的上位軟件，支持生產分選功能；
■  每通道對應狀態(tài)指示燈，分選更方便；

■  強大的數(shù)據(jù)存儲與分析功能；

■  百兆以太網通訊；

容量測量 

     N5800可測量超級電容容量參數(shù)，含充電容量和放電容量。測試方法為： 對被測超級電容以恒定電流進行充（放）電，在充（放）電過程中記錄時 間和電壓參數(shù)，通過計算充（放）電過程中電壓對時間的斜率計算容量。 用戶可根據(jù)IEC等各種測量標準自行選擇電壓、時間參數(shù)進行計算。

充電容量計算公式：

放電容量計算公式： 

其中：Ur表示額定電壓 U1表示充電容量計算起始電壓 

          U2表示充電容量計算截止電壓 U3表示放電容量計算起始電壓

          U4表示放電容量計算截止電壓 

          I1表示充電電流

          I2表示放電電流 

等效串聯(lián)內阻(DCIR)測試 

      N5800具有豐富的直流內阻測量功能，支持業(yè)內多種主流DCIR測試方法： 多脈沖法、單脈沖法、充轉放法、六步測試法、IEC測試法，可滿足絕大部 分用戶測試需求。NGI核心測試技術確保在各種測試方法中獲取高精度內阻 測量結果。

IEC法直流等效內阻計算公式：

壽命測試 

      N5800可通過重復充放電循環(huán)測試，測量超級電容在充放電過程中表征壽命特征的各項物理參數(shù)并提取其衰減曲線。通過分析參數(shù)衰減曲線，用戶可獲取超級電容在不同應用環(huán)境下的預計壽命、充放電周期以及在不同階段的性能指標。壽命測試結果可用于指導材料、工藝、存儲等諸多環(huán)節(jié)的改善。 

      采用精密的設計電路，保證充放電過程快速，精確。充電過程中恒流充點轉恒壓充電無過充，能最好的保護被測產品，防止由于過程導致測試結果不準或樣品損毀等情況。恒壓充電轉恒流無縫切換，結合1ms高速采樣，完全真實還原出產品測試過程，滿足用戶測試QC/T741、六步法、充轉放法對直流等效內阻（DCIR）的測試要求。 

(4) 采用全屏蔽技術，對惡劣測試環(huán)境具有廣泛適應性，有效提高了負載抗干擾能力。